3225貼片晶振測試儀

一． 概述

CX-118A型晶振測試儀是一款用來測試晶振頻率、精度、漂移等指標(biāo)的通用測試儀器。

儀器采用超高精度的有源溫補晶振作為時間基準；高速ECL電路進行信號的整形、放大、計數(shù) ;單片機進行系統(tǒng)管理及數(shù)據(jù)處理。儀器自身帶有*常用的Pierce振蕩電路，可以用來直接測試35MHZ以下的無源基頻晶振（超過35M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。

二．功能及用途

CX-118A晶振測試儀可直接測量40MHz以下無源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿足絕大部分晶振測量的需要。（絕大多數(shù)的基頻晶振頻率都<40MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）。可直接測量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測試座”也可測量貼片封裝晶振；

該設(shè)備可以測量如下類型的參數(shù)：

1.頻率

2.周期

3.頻率偏差率

4.頻率漂移率

5.漂移監(jiān)測時間

三．主要技術(shù)指標(biāo)

1. 頻率測量范圍：32.768KHz-100MHz

2. 周期測量范圍：1ns-10s

3. 采樣時間（T）：0.01s、0.1s、1s、10s可調(diào)

4. 頻率分辨率(R.P.)：

T=0.01s 時R.P.=100HZ

T=0.1s 時R.P.=10HZ

T=1s 時R.P.=1HZ

T=10s 時R.P.=0.1HZ

5. 基準頻率：10MHz

6. 基準精度：2ppm

7. 測量精度：2.5倍基準精度+1 R.P.

8. 外部輸入信號幅度：50mv-10v

9. 環(huán)境溫度：20±15℃

10. 電源：100-240v、50/60Hz

11. 功耗：<10W

 1.“參數(shù)選擇”功能：

該功能用來選擇顯示的參數(shù)類型。按壓“顯示選擇”鍵依次循環(huán)切換。發(fā)亮燈指示當(dāng)前顯示類型。

“漂移采樣”按鈕：用來啟動漂移采樣或者停止漂移采樣。按鈕上方指示燈亮?xí)r表示“漂移測量”處于工作狀態(tài)。 啟動漂移采樣時、顯示實時漂移率及漂移測量時間；停止漂移采樣時、顯示上次漂移率及漂移測量時間（如果測量時間=0、表示開機后為啟動過漂移測量）

漂移測量原理：啟動“漂移采樣時，系統(tǒng)以當(dāng)時的頻率測量值作為基準，然后實時比較采樣值，提取并保存*低頻率和頻率，計算相對于基準的偏差，選取大者作為漂移值。

注意：（1）測量“偏差”值時必須將晶振的“標(biāo)稱值”作為“標(biāo)準值“輸入系統(tǒng)（參見“標(biāo)準   設(shè)置”說明）

（2） 此處“時間”指的是漂移測量時間

2.“采樣時間”功能

該功能用來選擇系統(tǒng)進行一次完整測量需要的時間。時間越短，測量速度越快，測量分辨率越低，相應(yīng)的測量精度就越差。（見“主要技術(shù)指標(biāo)—頻率分辨率(R.P.)、及測量精度）。除非使用“外部測量”接口、測量很低頻率的信號，選擇10s外，通常選擇1s或0.1s。

按壓該功能鍵、循環(huán)切換采樣時間。

3.“標(biāo)準設(shè)置”功能

偏差測量（俗稱ppm測量）是通過測量頻率值，然后通過與標(biāo)準頻率值進行比較運算得到的。因此要準確的測量偏差、就必須正確輸入標(biāo)稱值作為數(shù)據(jù)處理的標(biāo)準值。

(1).“設(shè)置/測量”鍵：按壓該鍵可使系統(tǒng)狀態(tài)在“測量”狀態(tài)和標(biāo)準值“設(shè)置”狀態(tài)間切換。當(dāng)前狀態(tài)由上方“測量”、“設(shè)置”燈指示。

(2)。“位調(diào)整”鍵：用來調(diào)整輸入標(biāo)準值時的數(shù)據(jù)位。“設(shè)置”狀態(tài)燈亮?xí)r有效。按壓該鍵從位到*低位循環(huán)。閃爍位為當(dāng)前有效位。

(3).“數(shù)調(diào)整”鍵：用來改變閃爍位的值。按壓該鍵、閃爍位的值從9-0循環(huán)改變。

(4).“設(shè)置使能”鍵：當(dāng)確認各位數(shù)據(jù)輸入無誤后，按壓該鍵，系統(tǒng)將以該值作為標(biāo)準值計算“偏差”，并自動切換到“測量”狀態(tài)。

4.“面板晶振測試”功能

儀器面板左邊為通用、一體化的無源晶振測試及信號選擇功能區(qū)

(1).測量信號選擇：

①內(nèi)部基準：選擇內(nèi)部時間基準信號作為測量信號源。可用來檢查儀器是否工作正常。該機內(nèi)部基準頻率為10MHz，偏差為2ppm。